產(chǎn)品名稱:上海蘇州無(wú)錫嘉興寧波方阻儀、電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-08-20
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供上海蘇州無(wú)錫嘉興寧波方阻儀、電阻率測(cè)試儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦,專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年,志在破舊立新!*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作,提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
上海蘇州無(wú)錫嘉興寧波方阻儀、電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀
應(yīng)用領(lǐng)域
覆蓋膜、導(dǎo)電高分子膜、高低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜、導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙、金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;
熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層、電阻式、電容式觸屏薄膜、電極涂料;其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料、硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻;
半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件、導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等)、金屬膜、導(dǎo)電漆膜、蒸發(fā)鋁膜、PCB銅箔膜、EMI涂層等薄層電阻與電阻率;
導(dǎo)電性油漆、導(dǎo)電性糊狀物、導(dǎo)電性塑料、導(dǎo)電性橡膠、導(dǎo)電性薄膜、金屬薄膜、EMI防護(hù)材料、導(dǎo)電性纖維、導(dǎo)電性陶瓷等方阻測(cè)試。
概述:
本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,壓強(qiáng) 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。
標(biāo)準(zhǔn)要求:
該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
二、上海蘇州無(wú)錫嘉興寧波方阻儀、電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號(hào) | JR-641 | JR-642 | JR-643 | JR-645 | JR-646 | JR-647 |
1.方塊電阻范圍 | 10-5~2×105Ω/□ | 10-4~2×103Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×103Ω/□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×103Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-6~2×106Ω-cm | 10-5~2×104-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×104-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍 | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA,μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.顯示讀數(shù) | 大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 | |||||
7.測(cè)試方式 | 雙電測(cè)量 | |||||
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.不確定性誤差 | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) | |||||
10.選購(gòu)功能 | 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) |
3、儀器與治具連接示意圖
以下系列型號(hào):FT-641、T-642、FT-643、FT-646物圖如下:
特別提示:本圖片包含本機(jī)所有配置,如購(gòu)買中未選購(gòu)其中部分,則圖片有所差異.
以下系列型號(hào):FT-645、FT-647物圖如下:
特別提示:本圖片包含本機(jī)所有配置,如購(gòu)買中未選購(gòu)其中部分,則圖片有所差異.
四、工作原理和計(jì)算公式
1.雙電測(cè)四探針?lè)y(cè)試薄層樣品方阻計(jì)算和測(cè)試原理如下:
直線四探針測(cè)試布局如圖,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理:
當(dāng)電流通過(guò)1、4探針,2、3探針測(cè)試電壓時(shí)計(jì)算如下:
四探針測(cè)試結(jié)構(gòu)圖
當(dāng)電流通過(guò)1、2探針,4、3探針測(cè)試電壓時(shí)計(jì)算如下:
從以上計(jì)算公式可以看出:方阻RS只取決于R1和R2,與探針間距無(wú)關(guān).針距相等與否對(duì)RS的結(jié)果無(wú)任何影響,本公司所生產(chǎn)之探針頭全部采用等距,偏差微小,對(duì)測(cè)試結(jié)果更加精準(zhǔn)。
五、操作流程和測(cè)試步驟
1.使用前期準(zhǔn)備--測(cè)試前準(zhǔn)備工作:
1.1.開(kāi)機(jī)預(yù)熱:將220V電源插頭插入電源插座,打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),讓儀器預(yù)熱15分鐘,保證測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定。若測(cè)試儀無(wú)法正常啟動(dòng),請(qǐng)按以下步驟檢查:
①檢查電源線是否接觸良好;
②檢查后面板上的電源開(kāi)關(guān)是否已經(jīng)打開(kāi)
③檢查保險(xiǎn)絲是否熔斷,如有必要,請(qǐng)更換保險(xiǎn)絲
④ 如經(jīng)上述檢查無(wú)誤后,測(cè)試儀仍未正常啟動(dòng),請(qǐng)聯(lián)系本公司進(jìn)行解決。
1.2.準(zhǔn)備好被測(cè)物,鏈接好測(cè)試探頭,把測(cè)試探頭接口與主機(jī)接口相連接,并鎖定,防止松動(dòng)或接觸不良而對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響.
1.3.接通電源,開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān),待儀器液晶顯示屏上顯示出廠家和產(chǎn)品信息后,如圖3,按“顯示"鍵進(jìn)入,
1.4.進(jìn)入測(cè)試功能界面如圖4、圖5;如測(cè)試方阻時(shí),請(qǐng)選擇液晶顯示屏又側(cè)對(duì)應(yīng) 的功能按鍵“方阻",則進(jìn)入方阻測(cè)試界面;如測(cè)試其他材料時(shí),請(qǐng)選擇“材料"則進(jìn)入材料電阻,電阻率,電導(dǎo)率測(cè)試儀界面。
1.5.設(shè)置好被測(cè)物所需之參數(shù),把被測(cè)物放于測(cè)試治具平臺(tái)上操作,測(cè)試完畢直接顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。如配置軟件,軟件操作說(shuō)明書(shū)同安裝軟件在一起,請(qǐng)注意查看操作步驟.
以下分別講解方阻和材料測(cè)試的設(shè)置
2.四探針雙電方阻測(cè)試步驟
2.1.上述步驟中1項(xiàng),使用前期準(zhǔn)備
2.2 把被測(cè)物測(cè)試所需要之參數(shù)數(shù)據(jù)設(shè)定:
2.2.1依據(jù)不同之測(cè)試樣品,選擇被測(cè)試電流,電流設(shè)置:按方向鍵移動(dòng)光標(biāo)至“電流"功能,按“設(shè)置"鍵進(jìn)入;再按“左右"方向鍵選擇電流數(shù)據(jù),選擇完畢后按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn)。按照以上步驟和方法選擇電壓、長(zhǎng)度單位、探針形狀設(shè)定、溫度.
2.2.2.探針間距數(shù)據(jù)的輸入,探針間距出廠時(shí)已經(jīng)標(biāo)定,無(wú)需再次測(cè)量,探針頭上有詳細(xì)的探針數(shù)據(jù)資料,探針間距的設(shè)置:將光標(biāo)移動(dòng)至“探針間距"按“設(shè)置"鍵進(jìn)入,通過(guò)面板上面的“數(shù)字"按鍵輸入數(shù)據(jù)按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn);按照以上方法和步驟設(shè)定"厚度“,注意厚度和探針間距修正系數(shù)表已經(jīng)設(shè)置在儀器程序中,自動(dòng)修正,無(wú)需再次輸入和查詢表格。
2.3.測(cè)試探頭和測(cè)試平臺(tái)操作
選配測(cè)試平臺(tái)的將被測(cè)物放在測(cè)試平臺(tái)上,調(diào)節(jié)探頭探針與樣品良好接觸,探頭有二種,一種是探針是彈簧針型,一種是硬針而探頭內(nèi)腔有彈簧;探頭有方型和直線型兩種結(jié)構(gòu);調(diào)節(jié)測(cè)試平臺(tái)上的水平定位角,保證水平儀水準(zhǔn)在中心位置;放置好被測(cè)物品,后壓下探頭至被測(cè)物,帶數(shù)據(jù)穩(wěn)定后讀取.
方阻測(cè)試時(shí),在測(cè)試時(shí)電流的選擇也不同
根據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T1552-1995和根據(jù)ASTM F374-84標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)量方塊電阻所需要的電流值如下表所示
方塊電阻測(cè)試時(shí)電流量程選擇表
方塊電阻(Ω/□) | 電流量程 |
0---1.2 | 100mA |
1---25 | 10 mA |
20---250 | 1 mA |
200---2500 | 100μA |
2000---25000 | 10μA |
20000---250000 | 1μA |
>200000 | 0.1μA |
方阻測(cè)試時(shí)根據(jù)用戶所選擇的電壓測(cè)量低壓6V,中壓15V,高壓32V;材料測(cè)試的時(shí)候一直是6V
3.材料電阻測(cè)試步驟:
操作步驟及流程
3.1.本機(jī)可以依據(jù)不同測(cè)試產(chǎn)品選擇配置不同的測(cè)試治具,以下舉例操作說(shuō)明
3.1.1.在開(kāi)機(jī)界面按下按鍵板上的“顯示"鍵,進(jìn)入測(cè)量界面。如圖1
3.1.2 如圖2,在液晶顯示屏右側(cè)有4個(gè)藍(lán)色功能按鍵,當(dāng)測(cè)材料電阻率時(shí),請(qǐng)選擇 “材料"按鍵 ,進(jìn)入材料測(cè)試主界面.
3.1.3.在該界面下通過(guò)按下按鍵板上的上下左右鍵,可以移動(dòng)藍(lán)色光標(biāo)選擇相應(yīng)的參數(shù)。如圖2,將移動(dòng)到某一參數(shù)的位置,按下“設(shè)置"鍵,光標(biāo)將變?yōu)樯钏{(lán)色。此時(shí)通過(guò)上下左右鍵和數(shù)字鍵可以對(duì)相應(yīng)的參數(shù)進(jìn)行設(shè)置,設(shè)置完畢后按“確定"鍵返回。
3.1.4.如圖3接線方式,把主機(jī)與夾具連接線,連接好并固定住,
3.1.5.取試樣,試樣試驗(yàn)前的處理依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,
3.1.6.把樣品放于固定治具夾口內(nèi),把HD和LD接口分別與治具接口連接(不分順序)如圖3;另外兩個(gè)接口與探頭接線位置連接,后,放入被測(cè)樣品,輸入高度數(shù)據(jù)(為探針之間的間距),其他數(shù)據(jù)為樣品本身尺寸。
3.1.7.試樣固定住后,加壓探頭探針至被測(cè)樣品表面,帶數(shù)據(jù)穩(wěn)定后讀數(shù).
3.1.8. 按下“放大"鍵對(duì)應(yīng)的按鍵可以對(duì)當(dāng)前界面的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行放大
3.1.9. 待參數(shù)設(shè)置完畢,開(kāi)始測(cè)量,把測(cè)試獲得的數(shù)據(jù)寫(xiě)入試驗(yàn)報(bào)告中
3.1.10.以下設(shè)置和功能屬于配置操作軟件機(jī)型使用,如您購(gòu)買的無(wú)電腦操作軟件的話,請(qǐng)勿設(shè)置.
3.1.11.接口:可選擇“USB"和“232"兩種模式。根據(jù)用戶使用的接口類型進(jìn)行選擇。
測(cè)試功能:可選擇:“RρK"(顯示電阻,電阻率,電導(dǎo)率),“R"(只顯示電阻),“ρ"(只顯示電阻率,“K"(只顯示電導(dǎo)率)3種顯示模式。